Raytek

Infrarot-Temperaturmesslösungen zur Prozessoptimierung in der Photovoltaikindustrie

31.05.2010 | Redakteur: Sariana Kunze

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Raytek präsentiert auf der Intersolar 2010 innovative Lösungen zur berührungslosen Temperaturmessung in der Solarindustrie.

Diese Messgeräte eignen sich für alle Zell, Module- und Vorprodukthersteller, Maschinenbauer und Systemintegratoren der PV-Branche, die eine kontinuierliche Temperaturüberwachung zur Prozessoptimierung einsetzen wollen.

Sei es bei der Silizium- und Wafer-Produktion oder zur Herstellung von Photovoltaikzellen und -modulen, die Infrarot-Sensoren, Zeilenscanner und Thermokameras der Marken Raytek und Ircon ermöglichen die kontinuierliche Echtzeit-Temperaturüberwachung. Auch für Anwendungen im EX-Bereich bietet Raytek die passenden Lösungen, inkl. Zubehörteilen.

Bei der Herstellung von polykristallinem Silizium erlauben die Pyrometerserien Modline 5, Marathon MR und FR die präzise Temperaturmessung im CVD Reaktor. Die intelligenten Zweifarbpyrometer ermitteln die Temperatur auch bei ungünstigen Sicherheitsverhältnissen sehr genau (z.B. bei Kontaminierung des Reaktorsichtfensters). Die Geräte sind mit hoher optischer Auflösung, schneller Antwortzeit und variabler Fokussierung erhältlich und können dadurch kleinste Messflecken an Mehrkristall-Silizium Stäben messen.

Bei der Herstellung von Einkristall-Silizium-Wafern eignen sich die Hochleistungspyrometer Modline 5, Modline 5R, Marathon MR und Marathon MM aufgrund ihrer kurzen Wellenlänge, ihre Ein- oder Zweifarbmessprinzips und des Variablen Fokus ganz besonders. Die hohe optische Auflösung erlaubt die genaue berührungslose Temperaturmessung von kleinsten Messflecken auf der Flüssig/Fest-Grenzfläche des Siliziums. Dies ist besonders wichtig bei der Überwachung des Kristallzielprozesses. Die integrierte Videofunktion der MM-Serie ermöglicht die gleichzeitige Beobachtung des Prozesses und die Lagekontrolle des Messfleckes. Einige Pyrometer verfügen zudem über Funktionen zur Selbstüberwachung und -Kalibrierung, die die Bedingung noch leichter machen.

In Beschichtungsprozessen können inhomogene Temperaturverteilungen beim Auftragen dünner Schichten auf Trägermaterialien zu Fehlern, Blasen und Dealaminierungen führen und die Qualität des Endproduktes gefährden. Bei diesen Andwendungen ermöglicht das Prozessüberwachungssystem GS 150 mithoher optischer Auflösung, entsprechendem sektralbereich und branchenspezifischer Analysesoftware die Darstellung der Temperaturverteilung anhand von Wärmebildern und Temperaturprofilen. Beim Erkennen von thermischen Abweichungen wird ein Alarm ausgelöst, der ein korrigierendes Eingreifen in den Prozess ermöglicht. Das GS 150 System verfügt über Ethernet-Kommunikation und eine OPC-Schnittstelle. Die Daten werden mittels Fernübertragung dem Leitsystem zur Überwachung, Steuerung und Dokumentation des Prozesses zur Verfügung gestellt.

Zum Schutz von Scheiben und Dünnschicht-basierten Modulen können schlechte Übergänge im Silizium-Dünnfilm mit Hilfe der stationären Wärmebildkamera Ircon Maxline 2 problemlos identifiziert werden. Defekte in der Verbindung der Solarzellen können anhand eines typischen Wärmebildmusters eindeutig erkannt werden.

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