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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältige Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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26.09.2016

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Vereinfachter Entwurf von Embedded-Systemen mit CompactRIO

In diesem Beitrag erfahren Sie mehr über vielfältigen Funktionen der Plattform CompactRIO, die es ermöglicht, den Entwurf von Embedded-Systemen zu vereinfachen und innovative Entwürfe schneller auf den Markt zu bringen.

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19.09.2016

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Vereinfacht mit LabVIEW 2016

National Instruments (NI) stellt die Systemdesignsoftware LabView 2016 vor, die eine vereinfachte Anwendungsentwicklung und effizientere Integration von Software aus dem NI-Ökosystem ermöglicht. Diese Version bietet jetzt Kanalverbindungen, mit denen sich der komplexe Datenaustau...

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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01.09.2016

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Eine flexible Prüflösung für drahtlose Kommunikationsstandards

Im Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation von National Instruments arbeitet ein leistungsstärkerer FPGA. Die Prüflösung ist vor allem für die drahtlose Kommunikation interessant.

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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23.08.2016

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21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

Vom 26. bis 28. Oktober lädt National Instruments zu seinem 21. VIP Kongress. Die Teilnehmer können sich an zwei Kongresstagen inklusive Ausstellung über die aktuellen Entwicklungen informieren.

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22.08.2016

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Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Ein schnellerer Testdurchsatz bei der optischen Inspektion ist dank besserer Prozessoren kein Problem. Zudem wird die Bildverarbeitung bei der Inspektion dank FPGAs effizienter.

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28.07.2016

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Vektorsignal-Transceiver für anspruchsvolle RF-Prüfanwendungen optimiert

Um den komplexen und rasch wechselnden Prüfanforderungen im RF-Bereich gerecht zu werden, stellt National Instruments einen Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation vor. Neben einer fünffachen Bandbreite und 33 Prozent weniger Platzbedarf lässt sich der größere FPGA indivi...

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12.07.2016

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Zweite Generation des Vektorsignal-Transceivers für schnellere HF-Tests

Mit dem NI PXIe-5840 präsentiert National Instruments die zweite Generation seines Vektorsignal-Transceivers. Neben einer höheren Bandbreite ist es der verbaute FPGA, mit dem sich eine individuelle Programmierung umsetzen lässt.

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01.07.2016

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Aktuelle Technologie-Trends in der Mess- und Prüftechnik als kostenloser Report

Der jährliche Automated Test Outlook von National Instruments berichtet über die wichtigsten Trends und Methoden in der Mess- und Prüftechnologie. Besondere Erkenntnisse 2016: der Einfluss mobiler Geräte sowie Empfehlungen, wie Unternehmen durch Optimierung der Prüfabteilungen We...

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30.06.2016

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Die Vorteile einer offenen Plattform für die Messtechnik

Wie werden die komplexen und smarten Geräte des Internet der Dinge getestet? Zur Auswahl stehen geschlossene Boxmesssysteme oder eine Plattform mit modularer Hardware und flexibler Software.

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28.06.2016

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Wie sich Scheinwerfer automatisiert testen und validieren lassen

Mit dem AED-Scheinwerfertestsystem lassen sich Scheinwerfer als Gesamtsystem unter realistischen Bedingungen validieren. Zum Einsatz kommt VeriStand von National Instruments.

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21.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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21.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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24.05.2016

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Steckmodul misst Spannungen mit Genauigkeit von 15 ppm

Ein Digitalmultimeter auf Basis von PXI-Express hat National Instruments mit dem PXIe-4081 vorgestellt. Dank Auflösung und Isolierung eignet es sich für Prüfanwendungen. Die kalibrierte Genauigkeit von 15 ppm ist für zwei Jahre garantiert.

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10.05.2016

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Testbed kann LTE-U und LTE-LAA testen

National Instruments hat ein System vorgestellt, mit dem sich LTE Unlicensed (LTE-U) und LTE License Assisted Access (LTE-LAA) testen und Prototypen erstellen lassen. Das Testbed für die Wireless-Technologien soll die Netze verbessern und entlasten.

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06.05.2016

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Technologieausblick unterstreicht Bedarf für intelligentere Prüfsysteme

National Instruments hat den Automated Test Outlook 2016 veröffentlicht. Der jährlich erscheinende Technologieausblick gibt einen Überblick über die wichtigsten Trends und Entwicklungen, die die Prüftechnikbranche insbesondere aufgrund der steigenden Anzahl an vernetzten Geräten ...

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26.04.2016

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Controller für das nächste große Ding

National Instruments brachte kürzlich eine Familie von Industrie-Controllern auf den Markt, die auf die komplexen Anforderungen der hochentwickelten Anwendungen des industriellen Internets der Dinge (IIoT) ausgerichtet sind. Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Directo...

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26.04.2016

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Controller für das nächste große Ding

National Instruments brachte kürzlich eine Familie von Industrie-Controllern auf den Markt, die auf die komplexen Anforderungen der hochentwickelten Anwendungen des industriellen Internets der Dinge (IIoT) ausgerichtet sind. Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Directo...

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19.04.2016

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Messbox mit fünf Geräten wurde überarbeitet

Eine höhere Bandbreite von 350 MHz und vier analoge Kanäle, um Messdaten aufzunehmen. Bei der aktuellen VirtualBench hat National Instruments an der Hardware geschraubt.

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13.04.2016

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MEMS-Sensoren überwachen die Qualität von Raumluft

Bei einem Niedrigenergiehaus ist der Luftaustausch unterbunden. Für entsprechende Zufuhr von Frischluft müssen verschiedene Gase detektiert werden. Hier helfen MEMS-gefertigte Gassensoren, die von einem Interface von „LabVIEW for Arduino“ aufgenommen werden.

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11.04.2016

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Testbed ermöglicht neue Netzwerkinfrastruktur

National Instruments und weitere Unternehmen der Branche arbeiten zusammen mit dem Industrial Internet Consortium (IIC) an der Entwicklung des ersten Testbeds für Time-Sensitive-Networking-Anwendungen (TSN). Das Testbed soll eine neue Netzwerkinfrastruktur für das industrielle In...

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07.04.2016

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Echtzeit-Testbed untersucht verschiedene LTE-U- und LTE-LAA-Szenarien

Um das Mobilfunknetz 4G zu entlasten, wurden LTE-U und LTE-LAA als Zwischenschritt zu 5G entwickelt. National Instruments hat eine flexible Testlösung auf Basis von FPGAs entwickelt, um beide Standards umfangreich zu untersuchen.

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21.03.2016

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The Software is the Instrument – National Instruments

Das in einer Garage gegründete Unternehmen National Instruments hat die Messtechnik revolutioniert und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge. Ein Rückblick auf 40 erfolgreiche Jahre.

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25.02.2016

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5 Trends für 2016: Von Internet der Dinge bis Explosion der Daten

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen gibt die Veröffentlichung des NI Trend Watch 2016 bekannt.

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22.02.2016

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5 Trends für 2016: Von Internet der Dinge bis Explosion der Daten

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen gibt die Veröffentlichung des NI Trend Watch 2016 bekannt.

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22.02.2016

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5-in-1-Messgerät für Labormessplätze

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung von technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt auf der Messe Sensor + Test ein leistungsstarkes Modell seines Universalmessgeräts Virtual Bench vor.

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11.01.2016

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Die Pioniere der Elektronik und ihre Meilensteine

In diesem Jahr feiert ELEKTRONIKPRAXIS ihren 50. Geburtstag. Wir nehmen dies zum Anlass, in einer großen Serie über die führenden Unternehmen der Elektronikbranche zu berichten.

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11.01.2016

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Die Pioniere der Elektronik und ihre Meilensteine

In diesem Jahr feiert ELEKTRONIKPRAXIS ihren 50. Geburtstag. Wir nehmen dies zum Anlass, in einer großen Serie über die führenden Unternehmen der Elektronikbranche zu berichten.

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17.11.2015

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ARTSENS – eine einfach bedienbare Technik für Gefäßuntersuchungen

Die Verhärtung der Arterienwände erlaubt es, auf Gefäßerkrankungen zu schließen. Die nötigen Diagnosetechniken erfordern jedoch bildgebende Verfahren. Indische Forscher entwickelten eine Alternative.

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05.11.2015

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Wie eine Vertikalflugkammer gesteuert wird

Im vertikalen Windkanal mit einer installierten Leistung von 1600 kW fallen die unterschiedlichsten Messwerte an. Der Regelkreis wird von CompactRIO überwacht, einem programmierbaren FPGA-System von National Instruments.

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26.10.2015

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Mess- und Prüfmaschinen schneller und einfacher automatisieren

National Instruments und Bosch Rexroth machen die Automatisierung von Mess- und Prüfmaschinen mit einer aufeinander abgestimmten Steuerungs- und Antriebslösung einfacher. Die Lösung verbindet die Steuerungshardware CompactRIO sowie die grafische Programmierumgebung LabVIEW mit d...

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21.10.2015

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Eine offene und neutrale Plattform für den Anwender

Die Jubiläumsveranstaltung des VIP-Kongresses (Virtuelle Instrumente in der Praxis) von National Instruments ist eröffnet. Zum zwanzigsten Geburtstag sind über 700 Teilnehmer und rund 40 Aussteller zum VIP 2015 nach Fürstenfeldbruck bei München gekommen.

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16.10.2015

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Messdaten schon mit Intelligenz erfassen

National Instruments erweiterte seine Hard- und Softwareplattform, damit Anwender intelligentere Mess- und Datenverwaltungslösungen erstellen können. Zu den neuen Produkten zählen CompactDAQ-Controller mit vier und acht Steckplätzen basierend auf einem Quadcore-Prozessor, ein neu...

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28.09.2015

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OPC UA: Das sind die heißen Themen

Ziel der OPC Foundation ist es, OPC UA in den nächsten Jahren zum weltweit akzeptierten Standard für das Internet der Dinge voranzutreiben. Welche Aufgaben und Funktionen kann er in der künftigen Industrie 4.0 erfüllen? Die Redaktion hat sich in der Branche umgehört.

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23.09.2015

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Welche Vorteile ein Oszilloskop auf Basis von PXI-Express bietet

Im Gegensatz zu einem klassischen Stand-alone-Oszilloskop in der Box lässt sich ein modular aufgebautes Oszilloskop auf Basis von PXI-Express den Messanforderungen anpassen.

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16.09.2015

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Wie das Internet der Dinge beim automatisierten Test hilft

Die Mess- und Prüftechnik befindet sich im Umbruch. Viele Traditionsunternehmen sind dabei, sich auf Grundlage eines plattformbasierten Ansatzes neu zu erfinden.

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14.09.2015

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CompactDAQ-Hardware und DIAdem 2015 verwalten und analysieren Messdaten

Um im industriellen Internet der Dinge große Datenmengen verarbeiten und analysieren zu können, bietet National Instruments den CompcatDAQ-Controller, der zusammen mit LabVIEW arbeitet. Gewonnene Messdaten lassen sich mit DIAdem 2015 auswerten.

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08.09.2015

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Big Data ist letztlich Big Analog Data

Das Internet der Dinge ist nur dann kein Selbstzweck, wenn es dazu dient, unsere Umwelt besser zu verstehen und das Leben der Menschen zu verbessern. Deswegen gilt es den analogen Datenschatz unserer Umwelt zu heben.

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