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Testsystem Kosten für Produktionsprüfung von Mobilfunkgeräten gesenkt

| Redakteur: Sariana Kunze

National Instruments stellt das Wireless Test System (WTS) vor, eine Lösung, mit der die Kosten für Produktionstests von Mobilfunkgeräten in der Großserienfertigung gesenkt werden können. Trotz zunehmender Komplexität der Tests können die Kosten reduziert und der Durchsatz in der Produktion vervielfacht werden. Dies wird durch den Einsatz von Systemen möglich, die für Messgeschwindigkeit und paralleles Testen optimiert sind.

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Das PXI-basierte Wireless Test System ist auf Geschwindigkeit optimiert und vervielfacht den Durchsatz in der Produktion.
Das PXI-basierte Wireless Test System ist auf Geschwindigkeit optimiert und vervielfacht den Durchsatz in der Produktion.
(National Instruments)

„Megatrends wie das Internet der Dinge (Internet of Things, IoT) werden dazu führen, dass in mehr und mehr Geräten RF- und Sensorfunktionalität enthalten sein wird, deren Test bisher kostenaufwendig war. Doch die Testkosten sollten nicht die Innovationen oder die Wirtschaftlichkeit eines Produkts begrenzen“, erklärt Olga Shapiro, Program Manager for Measurement and Instrumentation bei Frost & Sullivan. „Um in Zukunft profitabel zu bleiben, werden Unternehmen ihre bisherigen Vorgehensweisen überdenken und für völlig neue Ansätze im Bereich Mobilfunktest offen sein müssen. Da das WTS auf der bewährten PXI-Plattform basiert und auf der guten Kenntnis des Marktes von NI beruht, erwarten wir, dass es einen deutlichen Einfluss auf die Profitabilität des IoT haben wird.“

Auf Basis der Hardwareentwicklungen der PXI-Plattform bietet das WTS von NI eine durchgängige Plattform für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge mit jeweils einem oder mehreren Anschlüssen. Zusammen mit flexibler Software zur Entwicklung von Testplänen wie dem TestStand Wireless Test Module können Hersteller die Auslastung ihrer Messgeräte wesentlich verbessern, indem sie mehrere Prüflinge parallel testen. Wegen seiner integrierten Ansteuerung der Prüflinge, den Mechanismen zur dezentralen Automatisierung sowie fertiger Testpläne für Chipsätze von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom lässt sich das WTS einfach in eine Fertigungslinie integrieren. Aufgrund dieser Besonderheiten verzeichnen Anwender beträchtliche Effizienzsteigerungen bei der Nutzung ihrer RF-Prüfgeräte und weitere Senkungen der Testkosten.

Alle drahtlosen Standards testen

„Wir sind in der Lage, mit dem NI Wireless Test System sämtliche drahtlosen Standards, von Bluetooth über WLAN bis hin zu GPS und Mobilfunk, mit ein und demselben Gerät zu testen“, erklärt Markus Krauss, Harmann/Becker Automotive Systems. „Das WTS sowie das Know-how von Noffz auf dem Gebiet der HF-Testsysteme haben es uns ermöglicht, die Testzeit sowie die Einrichtungs- und Inbetriebnahmezeit unserer Testsysteme deutlich zu reduzieren.“

Das WTS ist das neueste System von NI, das auf der PXI-Hardwareplattform und der Software LabView sowie TestStand basiert (vergleichbar mit dem Semiconductor Test System, das 2014 auf den Markt gebracht wurde). Es unterstützt Funkstandards von LTE Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth Low Energy und ist für Produktionstests von WLAN Access Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die z. B. Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind. Die im WTS verwendete SDR-Technologie des PXI-Vektorsignal-Transceivers ermöglicht bessere RF-Leistungsmerkmale bei Produktionstests und schafft eine Plattform, die flexibel an die wechselnden Anforderungen an RF-Tests angepasst werden kann.

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