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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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01.09.2016

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Eine flexible Prüflösung für drahtlose Kommunikationsstandards

Im Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation von National Instruments arbeitet ein leistungsstärkerer FPGA. Die Prüflösung ist vor allem für die drahtlose Kommunikation interessant.

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01.09.2016

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NI-Mitbegründer James Truchard tritt in den Ruhestand

Dr. James Truchard, Mitbegründer und CEO von National Instruments, gibt die Leitung des Unternehmens zum Ende des Jahres ab. Das in einer Garage aus der Taufe gehobene Unternehmen revolutionierte die Messtechnik und bahnt heute den Weg für das Internet der Dinge.

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23.08.2016

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21. VIP Kongress im Oktober wirft seine Schatten voraus

Vom 26. bis 28. Oktober lädt National Instruments zu seinem 21. VIP Kongress. Die Teilnehmer können sich an zwei Kongresstagen inklusive Ausstellung über die aktuellen Entwicklungen informieren.

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22.08.2016

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Wie ein FPGA die optische Inspektion beschleunigen kann

Ein schnellerer Testdurchsatz bei der optischen Inspektion ist dank besserer Prozessoren kein Problem. Zudem wird die Bildverarbeitung bei der Inspektion dank FPGAs effizienter.

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28.07.2016

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Vektorsignal-Transceiver für anspruchsvolle RF-Prüfanwendungen optimiert

Um den komplexen und rasch wechselnden Prüfanforderungen im RF-Bereich gerecht zu werden, stellt National Instruments einen Vektorsignal-Transceiver der zweiten Generation vor. Neben einer fünffachen Bandbreite und 33 Prozent weniger Platzbedarf lässt sich der größere FPGA indivi...

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12.07.2016

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Zweite Generation des Vektorsignal-Transceivers für schnellere HF-Tests

Mit dem NI PXIe-5840 präsentiert National Instruments die zweite Generation seines Vektorsignal-Transceivers. Neben einer höheren Bandbreite ist es der verbaute FPGA, mit dem sich eine individuelle Programmierung umsetzen lässt.

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30.06.2016

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Die Vorteile einer offenen Plattform für die Messtechnik

Wie werden die komplexen und smarten Geräte des Internet der Dinge getestet? Zur Auswahl stehen geschlossene Boxmesssysteme oder eine Plattform mit modularer Hardware und flexibler Software.

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29.06.2016

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Für die vernetzte Produktion sollten alle an einem Strang ziehen

Die Schlagworte Internet of Things und Industrie 4.0 sind allerorten präsent und begleiten uns weiter. Ziel ist die global vernetzte Produktion, über alle Grenzen hinweg. Die Entstehung neuer digitaler Plattformen für Fabriken führt zu der Frage, auf was sich die Unternehmen denn...

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28.06.2016

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Wie sich Scheinwerfer automatisiert testen und validieren lassen

Mit dem AED-Scheinwerfertestsystem lassen sich Scheinwerfer als Gesamtsystem unter realistischen Bedingungen validieren. Zum Einsatz kommt VeriStand von National Instruments.

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