Seit Jahren steigt die Anzahl der in der Elektronik eingesetzten Sensoren stetig. Vor allem im Embedded-Bereich kommen sie vermehrt zum Einsatz. Damit einher gehen Herausforderungen wie die Komplexität der Ansteuerung und der Testtiefe.
Im Webinar erhalten Sie einen Überblick über die verschiedenen Möglichkeiten, strukturelle und funktionale Tests von Sensoren effizient und mit entsprechender Tiefe durchzuführen. Verdeutlicht wird dies anhand von Praxisbeispielen. Doch wie wirkt sich die Einbindung dieser Tests auf Ihre Gesamttestabdeckung aus? Dieser Frage widmet sich der zweite Teil der Präsentation.

Im Webinar erfahren Sie:

• wie Sensoren auf einem Board angesteuert werden können,
• welche Möglichkeiten des strukturellen und funktionalen Testens es gibt und
• wie sich die Gesamttestabdeckung durch die Einbindung dieser Tests deutlich verbessert.

Durch das Webinar führt Sie:
Ricardo Schmidt,
Applikationsingenieur Embedded JTAG Solutions
bei Göpel electronic GmbH





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