Omek Optics & Allied Vision Technologies Mikroskope für hochauflösende und Infrarot-Bilderfassung

Redakteur: Ines Stotz

Der israelische Mikroskop-Hersteller Omek Optics hat in Zusammenarbeit mit Allied Vision Technologies (AVT) seine optischen Lösungen für die verzerrungsfreie Bilderfassung bei der Inspektion von mikroelektronischen Komponenten vorgestellt.

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Ein Omek Mic303 Mikroskop im Zusammenspiel mit einer AVT Goldeye P-032 Infrarotkamera
Ein Omek Mic303 Mikroskop im Zusammenspiel mit einer AVT Goldeye P-032 Infrarotkamera
(AVT)

Die in Givat Ella ansässige Omek Optics entwickelt und produziert industrielle Mikroskopen mit verzerrungsfreien Objektiven und einheitlicher, symetrische Köhlersche Beleuchtung. Hauptanwendungsgebiet ist die Qualitätsprüfung von elektronischen Produkten und Komponenten – etwa Wafern, Flachbildschirmen, LEDs und Leiterplatten.

Hohe Auflösung bei geringer Vergrößerung

Omek Mikroskope zeichnen sich besonders durch Ihre Fähigkeit aus, hochauflösende Bilder bei geringer Vergrößerung und einem besonders großflächigen Messfeld zu ermöglichen. So ist zum Beispiel das Mic 401ET Mikroskop mit einer Tubuslinse ausgestattet, die bei geringer Brennweite Digitalkameras mit hochauflösenden Sensoren bis 1 Zoll unterstützt.

Auf der Fachmesse Optatec präsentierte Omek Optics auf seinem Stand zwei Demos der 300er und 400er Reihen von Mikroskopen für die Waferinspektion.

Geringe Vergrößerungsrate und hochauflösender Kamera kombiniert

Ein Omek Mic 401ET Mikroskop war mit einer AVT Manta G-504 CCD-Kamera verbaut und demonstrierte die erfolgreiche Kombination aus geringer Vergrößerungsrate und hochauflösender Kamera. Ein CCD-Wafer wurde bei zweifacher bzw. vierfacher Vergrößerung mit der 5-Megapixel Kamera geprüft.

Die Manta G-504 ist mit einem 2/3“ ICX655 CCD-Sensor von Sony ausgestattet mit einer Auflösung von 2452 x 2056 Pixeln. Dank der speziellen 80mm-Tubuslinse von Omek lässt sich die volle Auflösung des Sensors nutzen. Somit werden hochauflösende Bilder und eine unschlagbare Detailschärfe möglich.

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