Mixed-Signal-Messgeräte Mehrkanal-Messgeräte für automatisierte Testsysteme mit kleinerem Formfaktor

Redakteur: Gudrun Zehrer

National Instruments stellte eine Reihe Arbiträrsignalgeneratoren für PXI mit bis zu zwei Kanälen und einer analogen Bandbreite bis 80 MHz vor sowie ein PXI-Oszilloskop mit acht Kanälen und 100 MHz für Anwendungen, die eine hohe Kanaldichte oder benutzerdefinierte Funktionen erfordern. Die kompakten Mixed-Signal-Messgeräte in modularem Formfaktor eignen sich zur präzisen Signalerzeugung und zur Messung komplexer Signalverläufe.

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(Bild: National Instruments)

Die PXI-basierten Arbiträrsignalgeneratoren und Oszilloskope sollen die Erstellung intelligenterer Testsysteme ermöglichen.

PXI-basierte Arbiträrsignalgeneratoren

Die Arbiträrsignalgeneratoren PXIe-5413, PXIe-5423 und PXIe-5433 bieten in Kombination mit einer dedizierten Engine für die Signalerzeugung einen nutzbaren Dynamikbereich von bis zu -92 dB, einen System-Jitter von max. 435 fs und eine präzise Signalanpassung. Aufgrund der neuen Architektur zur Neuberechnung der Abtastrate (Fractional Resampling) bleiben der Dynamikbereich und die Jitter-Eigenschaften unabhängig von der gewählten Abtastrate nahezu konstant. Die Module unterstützen zudem das Hochgeschwindigkeits-Streaming von Signalen und die Synchronisierung mit anderen PXI-Messgeräten. Hauptmerkmale der Arbiträrsignalgeneratoren sind bis zu zwei unabhängig steuerbare Ausgangskanäle, Ausgangsbereiche zwischen ±7,75 mV und ±12 V sowie Bandbreiten (modellabhängig) von 20, 40 bzw. 80 MHz in nur einem PXI-Steckplatz.

Rekonfigurierbare Oszilloskope

Das Oszilloskop PXIe-5172 beinhaltet einen FPGA, der anwenderseitig mithilfe von LabVIEW programmiert werden kann, um die Firmware anzupassen, beispielsweise für Inline-Signalverarbeitung und erweiterte Triggerfunktionen. Es besitzt hohe Flexibilität aufgrund 100 MHz, 250 MS/s und 8 Kanälen, einen Spannungseingangsbereich bis zu 80 Vpp mit DC-Offset von ±20 V sowie Unterstützung für externe Sample- und Referenztakte.

Aufgrund der Unterstützung des Treibers NI-FGEN lassen sich mit den Arbiträrsignalgeneratoren bestehende Softwareinvestitionen wahren, während das Oszilloskop über den anwenderprogrammierbaren FPGA an unterschiedliche Anwendungsanforderungen angepasst werden kann. Der softwarezentrierte und auf standardisierter PXI-Hardware basierende Prüfansatz soll Prüfingenieuren sowohl im Labor als auch in der Produktion die Flexibilität bietet, um mit bewährter Messtechnik Innovationen voranzutreiben.

Erstellen intelligenter Prüfsysteme

PXI-Signalgeneratoren und -Oszilloskope sind ein integraler Bestandteil der NI-Plattform, die Anwendern das Erstellen intelligenterer Prüfsysteme ermöglicht. Die Plattform umfasst mehr als 600 PXI-Produkte – von DC bis zum mm-Wellen-Bereich –, die durchsatzstarke Datenübertragungen über PCI-Express-Schnittstellen unterstützen. Darüber hinaus ermöglichen sie Synchronisierungen im Sub-Nanosekundenbereich und bieten integrierte Timing- und Triggerfunktionen.

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