Mit platform-based Design die Hürden von Industrie 4.0 bewältigen

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NI Labview mit seinem Ökosystem

Neben der neuen Version von Labview wurde mit NI Insight CM Enterprise eine neue Software-Lösung zur Online-Zustandsüberwachung von Maschinen und Anlagen vorgestellt. Hardwareseitig präsentierte NI den neuen Controller NI cRIO-9033 und das NI System on Module (SOM) für den Embedded-Bereich. Für die PXI-Plattform wurden vier neue Messgerätetypen für automatisierte Testanwendungen gezeigt, darunter der neue VSA NI PXIe-5668R für den RF-Bereich sowie das Oszilloskop NI PXIe-5171R mit acht Kanälen. All diese Gerätetypen vereinen die Vorteile softwaredesignter Messtechnik auf Basis der FPGA-Technologie. Sie sind für das automatisierte Testen und Forschen im Bereich Wireless- und mobile Geräte, in der Halbleiter- sowie die Automobilindustrie und in der Luft- und Raumfahrt konzipiert. Mit dem NI Semiconductor Test Systems (STS) zeigte NI eine PXI-basierte Systemreihe, welche die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglicht und deshalb die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senkt. Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt den Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten.

Fachausstellung und Zertifizierung

Im Rahmen des VIP 2014 präsentierten außerdem rund 40 Partner und Systemintegratoren in der begleitenden Fachausstellung ihre Lösungen und Produkte.

Zudem erhielten die Kongressteilnehmer auch in diesem Jahr wieder die Möglichkeit, kostenfrei an der Zertifizierung zum „Certified Labview Associate Developer“ (CLAD) teilzunehmen, die einen industrieweit anerkannten Qualifikationsnachweis darstellt.

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