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Qualitätssicherung von Hightech-Materialien und Leichtbaustrukturen

Inspektion von Oberflächen Deflektometrie zur Inspektion (teil-)spiegelnder Oberflächen Mit deflektometrischen Verfahren können spiegelnde und teilspiegelnde Oberflächen reproduzierbar und objektiv untersucht werden. Dabei ist sowohl die schnelle Detektion von lokalen Defekten (z. B. Pickeln oder Dellen) als auch die geometrische Vermessung und 3-D-Modellgenerierung großer und komplex geformter Objekte möglich. Deflektometrische Messdaten lassen sich außerdem nutzen, um mittels Texturanalyse feine Strukturen wie z.B. Fasern in Verbundwerkstoffen oder überlackierte Schleifriefen zu erkennen und zu bewerten. Aussteller: Fraunhofer IOSB, Karlsruhe (Fraunhofer IOSB)) arrow back arrow forward Image Zoom
Inspektion von Oberflächen Deflektometrie zur Inspektion (teil-)spiegelnder Oberflächen Mit deflektometrischen Verfahren können spiegelnde und teilspiegelnde Oberflächen reproduzierbar und objektiv untersucht werden. Dabei ist sowohl die schnelle Detektion von lokalen Defekten (z. B. Pickeln oder Dellen) als auch die geometrische Vermessung und 3-D-Modellgenerierung großer und komplex geformter Objekte möglich. Deflektometrische Messdaten lassen sich außerdem nutzen, um mittels Texturanalyse feine Strukturen wie z.B. Fasern in Verbundwerkstoffen oder überlackierte Schleifriefen zu erkennen und zu bewerten. Aussteller: Fraunhofer IOSB, Karlsruhe (Fraunhofer IOSB)) (Bild: Archiv: Vogel Business Media)
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