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So lässt sich das IIoT gestalten

„Unsere Multi DUT fähige UTP RF Testerplattform mit den NOFFZ-Technologien und den kundenspezifischen Produktanbindungen bilden mit dem neuartigen NI Wireless Testsystem eine perfekte Symbiose, um den heutigen Anforderungen Richtung Kosten- und Testzeitreduktion zu begegnen“, berichtet Markus Solbach, Geschäftsführender Gesellschafter bei NOFFZ Technologies. „Das neu vorgestellte NI WTS spart Entwicklungszeiten und läßt uns auf die Systemintegration und Test-Anpassung fokusieren.“ (Bild: Näther) arrow back arrow forward Image Zoom
„Unsere Multi DUT fähige UTP RF Testerplattform mit den NOFFZ-Technologien und den kundenspezifischen Produktanbindungen bilden mit dem neuartigen NI Wireless Testsystem eine perfekte Symbiose, um den heutigen Anforderungen Richtung Kosten- und Testzeitreduktion zu begegnen“, berichtet Markus Solbach, Geschäftsführender Gesellschafter bei NOFFZ Technologies. „Das neu vorgestellte NI WTS spart Entwicklungszeiten und läßt uns auf die Systemintegration und Test-Anpassung fokusieren.“ (Bild: Näther)
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